產品介紹
>半導體相關設備 >自動光學檢測
3D 結構光立體相機
● 可處理高亮面材質
● 可應用於具穿透特性之材質
● 高解析能力,可量測 Pillar/Bump 高度≧ 2 μm、直徑≧ 15μm
● 高速性能,全域掃描 (針對12吋晶圓,UPH > 16 pcs/h)
● 鏡頭像素:7.1 M
● 鏡頭視角:220 x 146 mm
● 工作距離:420 mm
● XY解析度:68 μm
● Z解析度:1.5 μm
● 量測深度:35 mm
產品介紹>半導體相關設備>自動光學檢測
3D 結構光立體相機
● 可處理高亮面材質
● 可應用於具穿透特性之材質
● 高解析能力,可量測 Pillar/Bump 高度≧ 2 μm、直徑≧ 15μm
● 高速性能,全域掃描 (針對12吋晶圓,UPH > 16 pcs/h)
● 鏡頭像素:7.1 M
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