產品介紹
>面板相關設備 >光學檢測產品線
Burr Check 設備
檢查LCD面板CF邊緣/TFT邊緣是否有破損、突出、缺角等缺陷

●十字Mark到TFT及CF邊緣切割線(磨邊)外邊量測誤差:<20 μm

●TFT/CF Chip、破片/Bali/裂痕檢出

●側拍檢測功能

適用製程別

●玻璃切割後品質檢測

●檢測精度20 μm

●灰階差異需在30以上

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Burr Check 設備
檢查LCD面板CF邊緣/TFT邊緣是否有破損、突出、缺角等缺陷

●十字Mark到TFT及CF邊緣切割線(磨邊)外邊量測誤差:<20 μm

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●玻璃切割後品質檢測

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