產品介紹
>半導體相關設備 >自動光學檢測
DBIM上片複合量測檢查機
高精度顯微鏡量測系統-距離及角度量測
高精度雷射測厚
適用導線架、基板
多功能複合量測功能 (上片角度、精度、銀膠厚度、Die傾斜度、側邊爬膠高度)
● 線型12K相機
像素解析度:8.5 μm/pixel
掃描速度:≦600 mm/s
光源:150 mm 線型同軸光

● 高倍速測量相機
像素解析度:0.35 μm/pixel
視野 (FOV):6.4mm×4.6mm
鏡頭倍率:5
光源:內同軸光源

● 低倍速測量相機
像素解析度:1.67 μm/pixel
視野 (FOV):6.4mm×4.6mm
光源:150 mm 線型同軸光

● 雷射測高模組
精度:1 μm
解析度:0.1 μm
產品介紹>半導體相關設備>自動光學檢測
DBIM上片複合量測檢查機
高精度顯微鏡量測系統-距離及角度量測
高精度雷射測厚
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● 線型12K相機
像素解析度:8.5 μm/pixel
掃描速度:≦600 mm/s
光源:150 mm 線型同軸光

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像素解析度:0.35 μm/pixel
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鏡頭倍率:5
光源:內同軸光源

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像素解析度:1.67 μm/pixel
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