產品介紹
驅動IC六面檢查設備
專為顯示驅動長型IC設計的檢查設備，完整六個面的外觀缺陷檢查功能，5微米以上的瑕疵可被檢出，具備高UPH和OK/NG sorting 功能。
●IC六面外觀缺陷檢查
●自製吸嘴，解決IC沾黏問題
●AOI和AI雙檢測系統
●可搭配semi規範自動化
●OK/NG IC Sorting 功能、並批功能
●IC六面外觀缺陷檢查
●自製吸嘴，解決IC沾黏問題
●AOI和AI雙檢測系統
●可搭配semi規範自動化
●OK/NG IC Sorting 功能、並批功能
●Machine Size (mm)： Wx L x H 2150 x 2135 x 2055
●Weight：2.3噸
●檢查經度： > 5um 瑕疵檢出
●UPH: > 1.5k/h
●IC size： Max(L x W x T) 33mm x 6mm x 0.6mm, Min(L x W x T) 9mm x 0.4mm x 0.1mm
●瑕疵類型： 橋接、汙染、變色、刮傷、凹痕、崩缺、崩裂
●Weight：2.3噸
●檢查經度： > 5um 瑕疵檢出
●UPH: > 1.5k/h
●IC size： Max(L x W x T) 33mm x 6mm x 0.6mm, Min(L x W x T) 9mm x 0.4mm x 0.1mm
●瑕疵類型： 橋接、汙染、變色、刮傷、凹痕、崩缺、崩裂
驅動IC六面檢查設備
專為顯示驅動長型IC設計的檢查設備，完整六個面的外觀缺陷檢查功能，5微米以上的瑕疵可被檢出，具備高UPH和OK/NG sorting 功能。
●IC六面外觀缺陷檢查
●自製吸嘴，解決IC沾黏問題
●AOI和AI雙檢測系統
●可搭配semi規範自動化
●OK/NG IC Sorting 功能、並批功能
●IC六面外觀缺陷檢查
●自製吸嘴，解決IC沾黏問題
●AOI和AI雙檢測系統
●可搭配semi規範自動化
●OK/NG IC Sorting 功能、並批功能
●Machine Size (mm)： Wx L x H 2150 x 2135 x 2055
●Weight：2.3噸
●檢查經度： > 5um 瑕疵檢出
●UPH: > 1.5k/h
●IC size： Max(L x W x T) 33mm x 6mm x 0.6mm, Min(L x W x T) 9mm x 0.4mm x 0.1mm
●瑕疵類型： 橋接、汙染、變色、刮傷、凹痕、崩缺、崩裂
●Weight：2.3噸
●檢查經度： > 5um 瑕疵檢出
●UPH: > 1.5k/h
●IC size： Max(L x W x T) 33mm x 6mm x 0.6mm, Min(L x W x T) 9mm x 0.4mm x 0.1mm
●瑕疵類型： 橋接、汙染、變色、刮傷、凹痕、崩缺、崩裂
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